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專業成就卓越,創新推動進步,品質決戰未來
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專業成就卓越,創新推動進步,品質決戰未來

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統。

Zeta電位儀廠家供應的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。

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專業成就卓越,創新推動進步,品質決戰未來

丹東百特儀器有限公司成立于1995年,經過近三十年的持續創新和誠信經營,百特已經發展成為業界受歡迎的粒度粒形儀器和技術提供商,百特儀器和技術正在成為國內外材料學專家、應用工程師和廣大科研工作者進行粒度粒形分析的新選擇。百特儀器和技術對納米、微米和毫米級材料,都能得到真實準確的粒度粒形和物理特性分析結果。支撐這些分析的儀器包括百特激光粒度儀、圖像粒度粒形分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、沉降粒度儀、粉體綜合特性測試儀等;支撐這些分析的技術包括98項專有技術(其中發明23項),27項軟件著作權,...

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